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Nouveaux matériels

par Fabien Cazes - publié le

Un nouveau matériel récemment installé au laboratoire est une micro-source à rayons X (Mo K-alpha) dont la radiation est focalisée sur une zone de 150 µm (Incoatec). Cette micro-source est combinée à une plaque au phosphore (MAR 345) permettant d’examiner par XRD (X-ray Power Diffraction) des échantillons soumis à de hautes pressions entre deux enclumes de diamant. Le projet a été financé par le project EUROfusion intitulée « Elaboration and characterization of radiation tolerant spinel nitrides of the group 14 elements and their solid solutions – multifunctional materials for fusion applications ».

Un autre investissement récent du laboratoire est un AFM (microscope à force atomique). Contrairement aux microscopes qu’on a l’habitude de voir, ce type de microscope n’est pas basé sur l’utilisation d’un système optique. Le mode fonctionnement est le suivant : une petite pointe montée sur une poutre flexible vient appuyer sur la surface du matériau étudié. Simultanément un rayon laser est focalisé sur la poutre flexible et réfléchi par celle-ci. Un capteur photodiode reçoit le rayon laser réfléchi et l’altitude de la pointe sur la surface mesurée en est déduite.